Industrie des composants électroniques
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Analyse des défaillances et des défauts des circuits imprimés -
Types et causes des défauts de placage et solutions aux problèmes d’observation et d’évaluation -
Observation et évaluation quantitative de faisceaux électriques et connecteurs sertis -
Causes, observation et mesure des problèmes relatifs aux connecteurs, tels qu’un défaut de continuité -
Observation et mesure au microscope de wafers de semi-conducteurs et de motifs de circuit intégré -
Observation et mesure de fissures de brasure et de manques matière -
Causes des moustaches d’étain, essais de croissance et solutions aux problèmes d’observation et d’évaluation