Industrie des composants électroniques

Analyse des défaillances et des défauts des circuits imprimés
Types et causes des défauts de placage et solutions aux problèmes d’observation et d’évaluation
Observation et évaluation quantitative de faisceaux électriques et connecteurs sertis
Causes, observation et mesure des problèmes relatifs aux connecteurs, tels qu’un défaut de continuité
Observation et mesure au microscope de wafers de semi-conducteurs et de motifs de circuit intégré
Observation et mesure de fissures de brasure et de manques matière
Causes des moustaches d’étain, essais de croissance et solutions aux problèmes d’observation et d’évaluation