Analyse Élémentaire

Réalisez toute une série d’opérations en temps réel, de l’observation sous grossissement à l’analyse élémentaire, avec un seul instrument. Créez des rapports intégrant à la fois l’image globale, plusieurs captures détaillées et les résultats d’analyse, sans avoir à changer d’instrument et sans destruction de la cible quelles que soient ses dimensions. L’analyse s’exécute sans vide, vous épargnant toute mesure de conductivité et toute préparation d’un environnement sous vide. L’analyse élémentaire accessible à tous !

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Série EA-300 - Unité d’analyse élémentaire par laser

Présentation d’une tête d’analyse élémentaire associable aux microscopes Série VHX. Il vous suffit de placer la cible sur la platine pour analyser les éléments sans destruction, dépôt ni vide. Les suggestions basées sur l’IA mettent l’analyse élémentaire de n'importe quelle substance à la portée de tout utilisateur.

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L’analyse élémentaire consiste à détecter les éléments qui composent une cible et à déterminer la proportion de chacun d’entre eux. On distingue généralement l’analyse organique, qui porte sur des composés organiques dans des domaines tels que la pharmacie et la biotechnologie, et l’analyse inorganique, qui porte sur la composition et les impuretés des matériaux industriels.

Analyse organique

Lorsque le composé organique à analyser est un mélange, l’analyse est réalisée par purification. On étudie par exemple la solubilité dans un solvant, ou la pureté en isolant le composant ciblé par distillation, tout en mesurant des propriétés physiques telles que le point de fusion, le point d’ébullition ou le spectre. La formule moléculaire est ainsi déterminée en soumettant les éléments constitutifs à des analyses qualitatives et quantitatives et en mesurant leur masse moléculaire. L’analyse organique est essentielle à la mise au point de matériaux de pointe dans des domaines tels que la pharmacie, la biotechnologie et l’électronique.

Analyse inorganique

Comme l’analyse inorganique s’applique à l’ensemble des matériaux relevant de la chimie inorganique, les types et le nombre d’éléments concernés sont bien plus importants que pour les matériaux organiques. C’est pourquoi elle est largement utilisée dans l’industrie, où l’on manipule des matériaux et des composants très divers. L’analyse qualitative inorganique permet de déterminer la nature des composants présents dans un matériau inorganique : espèces atomiques, groupes d’atomes, espèces moléculaires ou isotopes. La méthode utilisée pour déterminer la quantité de composants présents est appelée analyse quantitative inorganique, utilisée dans de nombreux secteurs pour l’analyse chimique des matériaux industriels, l’analyse directe d’échantillons solides, la microanalyse de produits pharmaceutiques et d’échantillons biologiques, ainsi que l’analyse des composants ioniques dans des domaines comme les semi-conducteurs ou les batteries.

Types d’analyse élémentaire (matériaux inorganiques)

Cette section présente les principales techniques d’analyse inorganique ainsi que les principes de fonctionnement des équipements associés.

ICP-MS (spectrométrie de masse à plasma à couplage inductif)

Cette méthode d’analyse par spectrométrie de masse utilise un plasma d’argon pour l’ionisation. Elle permet d’ioniser la plupart des éléments à un taux supérieur ou égal à 90 %. La solution échantillon est d’abord transformée en aérosol puis introduite dans le plasma. Les éléments contenus dans la solution se dissolvent, se vaporisent, s’atomisent et s’ionisent. Ils traversent ensuite l’interface d’échantillonnage et sont acheminés vers la section d’analyse de masse, placée sous vide poussé. Ces éléments sont focalisés par une lentille ionique, séparés par un spectromètre de masse, puis mesurés par un détecteur.

ICP-AES : spectrométrie d’émission atomique à plasma à couplage inductif

Cette forme de spectrométrie d’émission atomique utilise un plasma à couplage inductif haute fréquence (ICP) comme source lumineuse. La solution échantillon est transformée en aérosol puis introduite dans un plasma d’argon à haute température pour la mesure. La spectroscopie de la lumière émise lorsqu’un élément retrouve son état fondamental permet une analyse qualitative à partir de la longueur d’onde de la lumière, et une analyse quantitative à partir de son intensité. Les équipements d’analyse existent en version séquentielle, qui mesure un seul élément avec une haute résolution, et en version multicanal, qui utilise plusieurs capteurs CCD pour mesurer plusieurs éléments simultanément.

AAS : spectrométrie d’absorption atomique

Cette méthode utilise un four en graphite pour convertir l’échantillon en solution, ou une atomisation par flamme, afin de chauffer l’échantillon à mesurer et d’atomiser ses éléments. L’élément à mesurer est ensuite traversé par une lumière de longueur d’onde appropriée. Les atomes à l’état fondamental absorbent cette lumière et sont excités. La concentration de l’élément est mesurée en fonction de la quantité de lumière absorbée. L’échantillon de mesure étant une solution aqueuse diluée d’acide, les échantillons solides doivent faire l’objet d’une préparation préalable adaptée.

XRF : spectrométrie de fluorescence des rayons X

Dans cette méthode d’analyse, l’échantillon est irradié par des rayons X (rayons X primaires). Les rayons X de fluorescence excités (rayons X secondaires) sont ensuite détectés pour mesurer l’élément de façon qualitative et quantitative. La méthode utilisée varie selon l’élément à mesurer : la spectrométrie de fluorescence X à dispersion de longueur d’onde (WDX) sépare et détecte les rayons X de fluorescence à l’aide de cristaux, tandis que la spectrométrie de fluorescence X à dispersion d’énergie (EDX) les détecte à l’aide d’un détecteur à semi-conducteur.

LA-ICP-MS : spectrométrie de masse à plasma à couplage inductif par ablation laser

Dans cette méthode, la surface d’un échantillon solide est exposée à une lumière laser concentrée, qui évapore et fragmente l’échantillon en particules très fines. L’échantillon est ensuite introduit dans le plasma via un gaz vecteur pour analyse et ionisation. La mesure de ces ions par spectrométrie de masse permet d’étudier les éléments présents dans des zones localisées de l’échantillon.

L’électrophorèse capillaire (CE) et la chromatographie ionique sont également disponibles pour étudier les ions inorganiques, les acides organiques, les amines, les acides et les bases dans des échantillons aqueux ou gazeux.

Analyse élémentaire (matériaux inorganiques) par LIBS

Les méthodes d’analyse présentées ci-dessus nécessitent toutes une préparation préalable importante, chronophage et requérant un opérateur expérimenté. L’analyse LIBS simplifie considérablement l’identification des matériaux inorganiques en supprimant le besoin de préparation préalable (mise sous vide, découpe de coupes transversales, etc.).

Qu’est-ce que l’analyse LIBS ?

La spectroscopie de plasma induit par laser (LIBS) est une méthode d’analyse inorganique basée sur l’émission de lumière. Un laser à impulsions courtes et à forte densité d’énergie est projeté sur la surface de l’échantillon, ce qui transforme une infime partie de l’échantillon en plasma, celui-ci étant alors échantillonné, atomisé et excité. Lorsque la zone exposée au laser retrouve son état fondamental, elle émet de la lumière. La mesure de la longueur d’onde et de l’intensité de cette lumière à l’aide d’un spectromètre ou d’un capteur CMOS fournit des données permettant l’analyse qualitative et quantitative des éléments contenus dans l’échantillon.

Caractéristiques, applications et types d’équipements pour l’analyse LIBS

L’analyse LIBS ne nécessite aucune étape de distillation, d’atomisation, de mise sous vide, de gaz vecteur, etc. pour introduire l’échantillon dans le détecteur. Comme il n’est pas nécessaire de modifier les échantillons solides avant de procéder à leur analyse inorganique, l’analyse élémentaire devient possible avec beaucoup moins de contraintes, de temps et d’expertise que les autres méthodes d’analyse. Il est également possible de regrouper les équipements d’analyse dans un format compact, adapté à tout espace de laboratoire. Ces équipements sont aussi utilisés pour la sélection en ligne des matières premières. Les microscopes numériques et les équipements d’analyse LIBS sont généralement utilisés ensemble pour l’observation, l’analyse et l’analyse élémentaire, ce qui permet de vérifier l’état et la composition de la cible à partir de son aspect extérieur, améliorant considérablement l’efficacité du travail.

Avantages de l’analyseur élémentaire KEYENCE

L’analyse élémentaire par LIBS peut être réalisée de façon fluide avec un seul microscope numérique KEYENCE, en parallèle de l’observation de l’échantillon cible.

En associant la Série EA-300, unité d’analyse élémentaire par laser capable d’une analyse LIBS à grande vitesse, au microscope numérique Série VHX de KEYENCE, on obtient trois systèmes optiques réunis en un seul appareil : un système optique d’observation, un système optique laser et un système optique spectroscopique. Cet appareil unique permet non seulement une observation haute résolution ainsi qu’une mesure et une analyse précises, mais aussi une analyse élémentaire par LIBS. L’analyse élémentaire traditionnelle nécessitait d’observer l’échantillon au microscope, de le préparer, puis de l’analyser à l’aide d’un équipement hautement spécialisé.

L’objectif de la Série VHX et l’unité d’analyse élémentaire par laser partagent le même champ de vision : il n’est donc plus nécessaire de rechercher la zone d’intérêt ou de réajuster la mise au point pour identifier un corps étranger ou un matériau.

Avec les systèmes traditionnels, où l’observation et l’analyse sont assurées par des équipements distincts, il est difficile de faire correspondre exactement la zone observée et la zone analysée, ce qui entraîne des réglages chronophages et des résultats peu précis. Comme l’analyse élémentaire peut désormais être réalisée instantanément à l’endroit exact souhaité, les problèmes de décalage propres aux systèmes traditionnels appartiennent au passé.

Déterminer l’élément ou le matériau à partir des informations détectées demande normalement une expertise particulière. Avec l’unité d’analyse élémentaire par laser, la fonction de suggestion basée sur l’IA identifie les éléments et matériaux présents à partir du profil élémentaire obtenu, et affiche instantanément le nom des éléments, leur proportion respective, ainsi que le nom du matériau.

La Série EA-300 intègre une base de données regroupant des milliers de profils élémentaires. L’IA exploite cette vaste base de données pour suggérer instantanément non seulement l’élément détecté, mais aussi le nom du matériau. Les données relatives aux matériaux sont organisées de façon hiérarchique, ce qui permet de consulter facilement le nom générique, le nom spécifique et la description. La base de données peut également servir à collecter les résultats des analyses réalisées précédemment en interne, afin de s’y référer lorsque des corps étrangers similaires sont détectés. Cette solution permet ainsi à toute personne, même sans compétence technique avancée, d’identifier instantanément le matériau de la cible analysée.

Foire aux questions concernant les analyseurs élémentaires

Les produits KEYENCE permettent non seulement de mesurer et d’analyser les corps étrangers, mais aussi de les soumettre à une analyse élémentaire. Le microscope numérique Série VHX, sur lequel peut être installée l’unité d’analyse élémentaire par laser Série EA-300, dispose d’une fonction de mesure et de comptage automatique des zones, permettant de réaliser des mesures et analyses de contamination conformes à la norme internationale ISO 16232/VDA 19 relative au contrôle de propreté. De plus, une fois les particules détectées, il est possible d’effectuer une analyse élémentaire (analyse LIBS) directement sur les corps étrangers résiduels. Cet appareil unique prend en charge l’ensemble des opérations nécessaires à l’analyse élémentaire et à l’identification des matériaux, sans qu’il soit nécessaire de déplacer l’échantillon d’un instrument à un autre, et le champ de vision et la mise au point étant synchronisés, il n’y a aucun risque de perdre de vue les particules cibles.

Oui. Le microscope numérique Série VHX dispose d’un système d’observation à angle libre et d’une platine motorisée XYZ de haute précision, permettant un ajustement sur trois axes tout en évitant tout décalage du champ de vision, même lorsque la tête est inclinée. L’association de l’unité d’analyse élémentaire par laser Série EA-300 à ce système d’observation permet de capturer facilement des zones en creux, impossibles à observer sans incliner la tête.

Non. L’unité d’analyse élémentaire par laser Série EA-300 peut réaliser une analyse élémentaire sur plusieurs zones du champ de vision simultanément. Cette fonction d’analyse multipoint, en sélectionnant plusieurs emplacements, améliore l’efficacité de l’analyse, par exemple pour analyser en même temps les éléments d’un matériau de base et d’un corps étranger, ou lorsque plusieurs corps étrangers sont présents sur la même cible.

Non. L’analyse élémentaire sans préparation préalable peut être réalisée même sur des cibles comportant un revêtement, un film ou un placage. Grâce à la fonction d’analyse multicouche, la cible peut être percée par irradiation laser continue, ce qui permet d’analyser non seulement la surface, mais aussi les couches sous-jacentes, sans aucune préparation préalable.