Coplanarité des broches
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Secteur:
- Semi-conducteurs/LCD
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Produits:
- Instruments de Mesure

Le contrôle des broches basé sur image requiert habituellement un positionnement et un éclairage précis. La Série LJ-X mesure les profils par simple émission d’un faisceau laser 2D. La sensibilité est automatiquement ajustée selon la couleur et la brillance des broches, pour un contrôle stable en ligne.