Mesure de l’épaisseur de wafers de SiC

Mesurez l’épaisseur de wafers de carbure de silicium. La combinaison d’une tête de capteur qui ne génère aucune chaleur, d’un gabarit de montage dédié à la mesure d’épaisseur et d’une fonction d’alignement de l’axe optique garantit une mesure d’épaisseur d’une précision exceptionnelle.

Capteur de déplacement confocal

Série CL-3000

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