Mesure de la position/du diamètre extérieur de fils de cuivre

La Série LS-9000 est équipée d’un capteur CMOS mesurant le diamètre extérieur et d’un autre mesurant la position entre le transmetteur et le récepteur. La mesure de la position de la cible suivant les axes X et Y, nécessitant généralement deux instruments, peut ainsi être réalisée à l’aide d’une seule tête de mesure. Cette mesure simultanée suivant X et Y permet de détecter toute variation d’épaisseur du revêtement.

Micromètre optique haute vitesse

Série LS-9000

Retour vers « Sélection de produits par industrie et application »