Accueil
Glossaire de la Microscopie
Microscope à force atomique (AFM)

Microscope à force atomique (AFM)

MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE (AFM)

Microscope à balayage par sonde qui mesure et reproduit une cible par déplacement d'une sonde mécanique sur sa surface. Ce système est capable de fournir des données haute résolution à l'échelle subnanométrique.

Catalogues
Guides techniques
Demande de prix
Contact

Glossaire de la Microscopie

01. Microscopes optiques

Microscope numérique
Stéréomicroscope
Microscope de mesure
Microscope métallurgique
Microscope biologique
Microscope à fluorescence
Microscope de haute puissance
Microscope classique

02. Autres microscopes

Microscope confocal
Microscope confocal à balayage laser
Microscope électronique à balayage
Microscope confocal à fluorescence
Microscope à force atomique (AFM)

03. Périphériques liés aux microscopes

Objectifs zoom
Contraste interférentiel différentiel (DIC)
Système d'observation orientable selon un angle libre
CCD à refroidissement

04. Techniques d’observation au microscope

HDR (plage dynamique étendue)
Composition en profondeur
Capture d’image 3D

05. Techniques d’éclairage des microscopes

Éclairage par transmission
Éclairage vertical coaxial
Éclairage latéral
Éclairage diffus
Éclairage partiel
Éclairage polarisé

06. Terminologie de microscopie

Profondeur de champ
Ouverture numérique
Capteur d’image
Résolution couleur
Halo
Télécentrique
Analyse des corps étrangers/de la contamination

VEUILLEZ NOUS CONTACTER

Posez vos questions
Demande de prix
Démo / Test
Prêt gratuit pour essai
+33 1 56 37 78 00